一、JSM-7900F主要技术指标： 1、分辨率： 1.0 nm (0.5 kV) ， 0.7 nm (1.0 kV)，0.6 nm (15 kV), , 3.0 nm (5 kV, 5 nA, WD 10 mm) 2、摄影倍率：×25 ～ ×1,000,000（120x90mm） 3、电子枪 In-lens schottky plus场发射电子枪 3、加速电压： 0.01 kV ～ 30 kV 5、照射电流：数pA ～ 500 nA 二、EDS： 分辨率：优于127eV (MnKα处,计数率为20000cps), ； 1000-50000cps Mn Kα谱峰宽化弱于1ev ； 1000-50000cps平均元素定量误差小于0.5% 检测元素范围：Be4-U92

主要功能和特色（应用范围） 1、扫描电镜：各种样本表面、断面的形貌观察及微区元素分析，尤其适合纳米材料精细形貌的观察。 （组织、培养细胞、微生物、植物、药物制剂、生物工程材料等） 2、EDS：配合扫描电镜，进行微区元素种类和含量分析。 3、冷冻传输：适合液体、凝胶类、电子束敏感试样、需要观察断裂面等样本，在低温下进行制样和形态学观察。

主要附件及配置 1、EDS： 分辨率：优于127eV (MnKα处,计数率为20000cps), ；1000-50000cps Mn Kα谱峰宽化弱于1ev ；1000-50000cps平均元素定量误差小于0.5% 检测元素范围：Be4-U92 2、冷冻传输：低温制样及表面、截面形貌观察（适合常温脱水后形貌变化显著的样本）